主要包括微处理器系统、面板显示及按键控制电路、精密延时信号发生器、窄脉冲功率驱动及发光强度控制电路、精密测时器、激光脉冲同步器、激光脉冲能量探测器及前置放大器、高速数据采集转换器及打印机控制电路等。

 

1 “双频双光路耦合”法实现激光测距性能的综合测试

本方案的基本思想是将目标漫反射的远方目标回波由半导体激光器模拟，当模拟该回波的光谱和空间特性后，即可驱动激光器的逻辑单元工作。而激光脉冲相应距离上的飞行时间则由精密延时模块实现。这样将激光脉冲在空间的延迟特性转换为时间特性，从而将远方目标从一定距离拉近到被测仪器前端，代替了激光测距机性能检测必须要有远方的实际合作目标的传统检测方法。

 

2 测距逻辑的检测

当检测设备接收到“取样”脉冲后即控制精密延时器开始计时，AVR单片机控制精密延时器分别发出1个、2个、3个模拟回波脉冲信号，这几个模拟回波在时间上对应不同的目标距离，这样在激光测距机的接收通道上就可以接收到几个激光脉冲，操作激光测距机的“选通”旋钮，分别对其显示，即可判断激光测距机的测距逻辑和距离选通功能是否正常。