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2019

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基于AVR的激光测距仪综合性能测试设备设计


主要包括微处理器系统、面板显示和按键控制电路、精密延时信号发生器、窄脉冲功率驱动和照度控制电路、精密计时仪、激光脉冲同步器、激光脉冲能量检测器和前置放大器、高速数据采集转换器和打印机控制电路。

1 “双频双光路耦合” 方法实现激光测距性能综合测试

该方案的基本思想是用半导体激光器模拟目标漫反射的远端目标回波。在模拟回波的光谱和空间特性之后,可以驱动激光器的逻辑单元工作。通过精确延迟模块实现激光脉冲在相应距离处的飞行时间。通过这种方式,将激光脉冲在空间中的延迟特性转换为时间特性,使远处的目标从一定距离变焦到待测仪器的前端,代替传统的激光测距仪远程测距实际协作目标的检测方法。

2测距逻辑的检测

当检测装置接收到 “采样” 脉冲时,它控制精密延迟装置开始计时。AVR单片机控制精密延时装置分别发送一个、两个、三个模拟回波脉冲信号。这些模拟回波是及时的。对应于不同的目标距离,从而可以在激光测距仪的接收通道上接收到几个激光脉冲,并且可以操作激光测距仪的 “频闪” 旋钮以显示激光测距仪。测距逻辑和距离选通功能是否正常。

 

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